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在電子信息化社會中，電子技術和微電子技術是最為基礎的技術支撐。電子技術廣泛應用于國民經濟的各個領域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產品的另外一項重要的考核指標。對電子與微電子材料的選材與設計、并進行力學測試分析，關系著電子與微電子產品設計的發(fā)展。

凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強度試驗、動態(tài)疲勞使用壽命試驗、三點彎壓縮試驗、四點彎壓縮試驗、平板拉伸試驗、動/靜態(tài)扭轉試驗、側向力剪切試驗、3維DIC樣品變形試驗、2維引伸計應變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。

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試驗案例

高溫環(huán)境下的電路板靜態(tài)拉伸通路判斷試驗

利用M-3000試驗機搭配高溫環(huán)境箱，將電路板的線連接至外置電流判斷設備上，通過加熱與靜態(tài)拉伸的試驗方法，借由觀察電流來判斷高溫環(huán)境下不同布局的電路板的抗拉強度與維持閉合通路的最大載荷。